ГОСТ 3221-85

Стандарт устанавливает спектральные методы определения кремния (при массовой доле от 0,007 до 0,6 %), железа (при массовой доле от 0,0007 до 0,6 %), меди (при массовой доле от 0,0007 до 0,02 %), титана (при массовой доле от 0,0007 до 0,02 %), цинка (при массовой доле от 0,0007 до 0,15 %), марганца (при массовой доле от 0,0007 до 0,02 %), магния (при массовой доле от 0,0007 до 0,02 %), хрома (при массовой доле от 0,0007 до 0.01 %), ванадия (при массовой доле от 0,0007 до 0.01 %), натрия (при массовой доле от 0,0005 до 0,03 %) в первичном алюминии высокой и технической чистоты с фотографической и фотоэлектрической регистрацией спектра.